扫描电镜（SEM）观察样品表面形貌，加速电压15 kV，工作距离10 mm，分辨率≤1 nm，放大倍数5万倍，采集背散射电子（BSE）图像，像素密度≥1024×768，元素面分布分析（EDS）检测C、O、Fe元素质量百分比误差＜3%。 🆔 ID: 205375 ✅ 可用
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透射电镜（TEM）拍摄原子级晶格条纹，点分辨率0.23 nm，线分辨率0.14 nm，样品厚度＜100 nm，加速电压200 kV，选区电子衍射（SAED）相机长度120 cm，衍射斑点半高宽（FWHM）≤0.05 nm?1，高分辨像（HRTEM）放大倍数100万倍。 🆔 ID: 205376 ✅ 可用
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原子力显微镜（AFM）轻敲模式测量表面粗糙度Ra≤5 nm，扫描范围10 μm×10 μm，探针共振频率300 kHz，力常数40 N/m，相位成像分辨率0.1°，三维形貌数据点间距≤1 nm。 🆔 ID: 205377 ✅ 可用
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X射线光电子能谱（XPS）全谱扫描能量范围0-1200 eV，结合能分辨率≤0.5 eV（Ag 3d?/?峰），采样深度≤10 nm，元素定量误差＜5%，高分辨C 1s谱半高宽≤1.0 eV，荷电校正基准C 1s=284.8 eV。 🆔 ID: 205378 ✅ 可用
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扫描隧道显微镜（STM）恒流模式测量单原子台阶高度0.2 nm，隧道电流1 nA，偏压±1 V，扫描速率1 Hz，针尖曲率半径＜10 nm，表面原子分辨率达到0.1 nm。 🆔 ID: 205379 ✅ 可用
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聚焦离子束（FIB）加工微纳结构，加速电压30 kV，离子束流1 pA-50 nA，加工精度±5 nm，切片厚度5 nm/层，SEM实时成像分辨率≤2 nm，制备透射电镜样品厚度≤100 nm。 🆔 ID: 205380 ✅ 可用
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同步辐射X射线衍射（SR-XRD）小角散射（SAXS）Q值范围0.005-0.5 ??1，探测Qmin=0.003 ??1，Qmax=0.8 ??1，散射矢量分辨率ΔQ/Q≤1%，样品至探测器距离5-10 m，数据采集时间10-60 s。 🆔 ID: 205381 ✅ 可用
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纳米压痕仪测量材料硬度，载荷范围10 μN-500 mN，加载速率100 μN/s，压痕深度≤1 μm，弹性模量误差＜10%，硬度值分辨率0.1 GPa，连续刚度测量频率1 Hz。 🆔 ID: 205382 ✅ 可用
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动态光散射（DLS）测量纳米颗粒粒径分布，波长632.8 nm，散射角90°，温度控制±0.1 ℃，粒径范围0.3 nm-10 μm，多分散指数（PDI）＜0.3，测量重复性RSD≤5%。 🆔 ID: 205383 ✅ 可用
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傅里叶变换红外光谱（FTIR）中红外区（4000-400 cm?1）分辨率4 cm?1，信噪比＞50000:1，样品厚度控制透光率10-80%，官能团吸收峰半高宽≤2 cm?1，波数精度±0.01 cm?1。 🆔 ID: 205384 ✅ 可用
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拉曼光谱激发波长532 nm/785 nm，激光功率≤1 mW，光谱范围100-4000 cm?1，分辨率2 cm?1，空间分辨率≤1 μm，峰位偏移误差＜1 cm?1，信噪比＞30:1。 🆔 ID: 205385 ✅ 可用
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X射线断层扫描（Micro-CT）空间分辨率≤1 μm，像素大小0.5-2 μm，扫描电压50-150 kV，电流50-200 μA，投影角度360°（每度1帧），重建体素尺寸≤0.5 μm3，对比度分辨率≥1%。 🆔 ID: 205386 ✅ 可用
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二次离子质谱（SIMS）深度剖析，一次离子束O??/Cs?，能量10-30 keV，束流密度10 pA/cm2，横向分辨率≤50 nm，深度分辨率≤1 nm，检测限＜10? at./cm3，质量分辨率≥5000 (m/Δm)。 🆔 ID: 205387 ✅ 可用
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电子顺磁共振（EPR）微波频率9-10 GHz（X波段），磁场强度0.34-0.35 T，g因子测量精度±0.0002，信噪比＞20:1，自旋浓度检测限＜101? spins/g，线宽分辨率≤0.1 mT。 🆔 ID: 205388 ✅ 可用
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正电子湮没寿命谱（PALS）探测能量511 keV，时间分辨率≤250 ps，寿命测量范围0.1-1000 ns，空位缺陷尺寸分辨率＜0.1 nm，符合计数率＞10? cps，数据点间隔0.1 ns。 🆔 ID: 205389 ✅ 可用
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紫外-可见漫反射光谱（UV-Vis DRS）波长范围200-800 nm，分辨率1 nm，反射率测量范围0-100%，带隙计算采用Kubelka-Munk函数，误差＜0.1 eV，样品厚度控制散射系数＜10%。 🆔 ID: 205390 ✅ 可用
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电化学阻抗谱（EIS）频率范围10?-10?2 Hz，交流振幅5 mV，阻抗测量精度±1%，等效电路拟合误差＜5%，电荷转移电阻（Rct）分辨率0.1 Ω·cm2，数据点数≥100。 🆔 ID: 205391 ✅ 可用
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热重分析（TGA）温度范围室温-1000 ℃，升温速率5-20 ℃/min，天平灵敏度0.1 μg，失重率测量误差＜0.01%，热分解温度（5%失重）分辨率±1 ℃，气氛控制N?/空气流量20-100 mL/min。 🆔 ID: 205392 ✅ 可用
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差示扫描量热法（DSC）温度范围-150-600 ℃，升温速率1-50 ℃/min，热流灵敏度0.1 μW，熔融峰温度分辨率±0.5 ℃，比热容测量误差＜2%，氮气流量50 mL/min。 🆔 ID: 205393 ✅ 可用
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原子发射光谱（ICP-OES）波长范围170-785 nm，检测限≤1 ppb（多数元素），精密度＜2% RSD，多元素同时分析≥70种，等离子体功率1100-1300 W，雾化器流速0.5-1.0 L/min。 🆔 ID: 205394 ✅ 可用
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电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）质量范围1-260 amu，检测限≤0.1 ppt（多数元素），同位素比值精度＜0.1%，氧化物产率CeO?/Ce?＜2%，双电荷产率Ba2?/Ba?＜3%，等离子体气体流量15-16 L/min。 🆔 ID: 205395 ✅ 可用
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扫描透射X射线显微镜（STXM）软X射线能量范围250-2000 eV，空间分辨率≤30 nm，光子通量＞10? photons/s，元素吸收边分辨C K-edge（284 eV）、O K-edge（532 eV），样品厚度＜100 nm。 🆔 ID: 205396 ✅ 可用
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近场光学显微镜（SNOM）分辨率突破衍射极限至λ/20（可见光区＜50 nm），探测波长400-1000 nm，近场探针孔径＜100 nm，光强信号噪声比＞10:1，扫描范围20 μm×20 μm。 🆔 ID: 205397 ✅ 可用
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卢瑟福背散射谱（RBS）He?离子能量1-3 MeV，束流密度＜10 nA/cm2，元素深度分辨≤10 nm，浓度检测限＜0.1 at.%，散射角160-170°，能量分辨率≤15 keV。 🆔 ID: 205398 ✅ 可用
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核反应分析（NRA）D(3He,p)?He反应探测H元素，入射束流3He能量500-1000 keV，能量分辨率≤5 keV，H浓度检测限＜101? atoms/cm3，深度分辨≤5 nm，数据采集时间10-30 min。 🆔 ID: 205399 ✅ 可用
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穆斯堡尔谱仪??Fe同位素源，γ射线能量14.4 keV，四极分裂分辨率≤0.1 mm/s，同质异能位移精度±0.01 mm/s，温度控制77-300 K，样品厚度≤10 mg/cm2，超精细参数测量误差＜0.05 mm/s。 🆔 ID: 205400 ✅ 可用
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光致发光光谱（PL）激发波长325 nm（He-Cd激光器），发射波长范围350-800 nm，分辨率0.5 nm，量子产率测量误差＜10%，荧光寿命测量范围1 ns-1 μs，时间分辨率100 ps。 🆔 ID: 205401 ✅ 可用
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阴极荧光光谱（CL）电子束加速电压5-30 kV，束流密度＜100 nA/cm2，发射波长范围200-1000 nm，空间分辨率≤5 nm，发光强度噪声比＞10:1，温度控制80-400 K。 🆔 ID: 205402 ✅ 可用
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表面增强拉曼散射（SERS）基底增强因子＞10?，激光波长785 nm，检测浓度＜10?? M，信号重复性RSD＜10%，热点间距≤5 nm，基底稳定性＞10次循环。 🆔 ID: 205403 ✅ 可用
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椭圆偏振光谱（SE）波长范围245-1700 nm，入射角60-75°，测量厚度范围1 nm-10 μm，光学常数（n,k）误差＜0.01，数据采集角度间隔5°，薄膜折射率分辨率0.001。 🆔 ID: 205404 ✅ 可用
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