在贴瓦片推理中如何引入非线性晶格热-声子-电子耦合Tile谱分析预测拓扑绝缘体表面态稳定性？热门官方

更新于2025/12/1 15:12:12

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回答：拓扑绝缘体表面态的稳定性受热振动、声子散射与电子-声子耦合影响。将拓扑绝缘体薄膜按Tile划分，测量不同温度下的角分辨光电子能谱（ARPES）与拉曼光谱，通过多场耦合模型在Tile级拟合表面态能隙与耦合强度的关系，融合时预测材料在器件工作温度下的表面态稳定性，指导拓扑电子器件设计。

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